高速数字化仪应用案例系列虹科Spectrum在自动化测试设备领域的应用

自动化测试设备应用

由计算机控制的测试系统通过提高效率和质量来帮助提高制造生产力。自动测试设备（ATE）起着至关重要的作用，因为它能够以更快的速度和更可控的方式进行更有力的测试。ATE可以实现以非常高的速率连续进行的单个测量，也可以实现由许多不同的仪器进行的多次测量。在被测设备（DUT）或被测单元（UUT）上进行的测量通常由某种形式的计算机以自动方式计算，存储和分析。该过程有助于消除人为错误，并允许以可重复的方式执行故障诊断，即使涉及复杂的测量。

虹科方案

虹科Spectrum提供极其广泛的数字化仪和任意波形发生器，适用于需要捕获，生成和分析电子信号的ATE应用。这些产品适用于各种流行的标准，包括PCI、PCIe、PXI、LXI和cPCI。数字化仪提供 50 kHz 至 1.5 GHz 的带宽、100 KS/s 至 5 GS/s 的采样率以及 8 位至 16 位的分辨率。由于能够捕获和分析从DC到1.5 GHz的信号，数字化仪可用于测试各种DUT和UUT。例如，当需要大动态范围和最大灵敏度时，高分辨率14位和16位数字化仪可用于捕获和分析频率高达250 MHz的信号。这些高分辨率产品具有出色的信噪比（高达72 dB）和无杂散动态范围（高达90 dB），因此可以检测和分析微小的信号变化。它们是测试精密组件、传感器和系统的完美工具，这些组件、传感器和系统产生的信号需要严格控制。对于更高频率的测量，例如PCB板和半导体器件上的测量，虹科Spectrum的具有5 GS/s的板卡可以表征低至纳秒和亚纳秒范围的信号和脉冲。

为了便于集成到ATE系统中，虹科Spectrum提供了与32位和64位版本的Windows和Linux配合使用的软件和仪器驱动程序。这些板卡的编程可以使用各种语言进行，如 LabVIEW、 LabWindows/CVI、 C 、 MatLab、 Borland Delphi、 Visual Basic、 VB.NET、 C#、 J# 和 IVI。

每个数字化仪卡可以有一到十六个通道，多个卡可以与虹科Spectrum的StarHub系统连接在一起，以创建具有多达数百个完全同步通道的仪器。这使得它们非常适合需要监控多个信号或测试点的应用。一些卡还提供额外的模拟和数字I /O功能以及高级触发和时钟选项，以便它们可以与许多不同的测试仪器一起工作。

虹科推荐板卡系列

59XX系列

65XX系列

75XX系列

虹科产品特点

l PCIe、PXIe 和 LXI 外形规格

l 分辨率从 8 位到 16 位

l 具有模拟和数字通道采集和生成的混合模式系统

l 采样率从 100 kS/s 到 10 GS/s

l 用于具有完全同步功能的高通道数系统的 Star-Hub功能

l LabVIEW、 LabWindows、 MATLAB、 C 、 Delphi、 Visual Basic、 VB.NET、 c#、 J#、 Python 和 IVI 驱动程序

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